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비파괴(CT) 품질 분석 기술 세미나 개최
작성자 홍보지원실
등록일 2015-06-22
조회수 1727


슬롯부품연구원 슬롯뿌리기술연구센터에서는 지난 6월 18일(목), 시흥비즈니스센터에세 '비파괴(CT) 품질 분석 기술세미나'를 개최하였다.



이번 세미나는 슬롯부품의 품질에 대한 기준이 높아짐에 따라 지속적으로 증가사고 있는 컴퓨터 단층 촬영(CT)의 국내외 최신 기술동향과 슬롯 부품의 품질분석 활용사례 교류를 통한 산연협력 강화를 위해 개최되었으며, 슬롯부품업체 관계자 60여명이 참석하였다.
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